Kategorija: Materiālu raksturošana

Ražotājs; Modelis: BioLogic; VMP3

Īss apraksts: VMP3 is zinātniskiem pētījumiem paredzēts multi-kanālu potenciostats/galvanostats, kas aprīkots ar diviem impedances mērīumu moduļiem un 15 neatkarīgiem kanāliem, no kuriem viens ir īpaši paredzēts mazu strāvu mērījumiem. Instruments ir nozīmīgs bateriju pētījumiem.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Ķīmijas laboratorijas un to aprīkojums 

Ražotājs; Modelis: Anton Paar; Litesizer 500

Īss apraksts: Ar LitesizerTM 500 iespējams noteikt daļiņu izmērus, zēta potenciālu un molekulāro masu, mērot dinamisko (DLS), elektroforētisko (ELS) un statisko gaismas izkliedi (SLS) kā arī parauga gaismas caurlaidību un gaismas laušanas koeficientu.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana 

Ražotājs; Modelis: SETARAM; LABSYS Evo

Īss apraksts: Ar LABSYS evo STA 1600 iespējams analizēt paraugus pie temperatūrām līdz pat 1600°C. Instrumentu izmanto, lai uzzinātu materiālu termisko uzvedību, pakļaujot tos ekstrēmām temperatūrām ražošanas, darbības vai pārstradāšanas procesos.

Plašāks apraksts

Kategorija: Mikroskopija; Materiālu raksturošana; Tīrtelpas

Ražotājs; Modelis: Tescan Lyra

Īss apraksts: 

Plašāks apraksts

Kategorija: Mikroskopija; Materiālu raksturošana; Tīrtelpas

Ražotājs; Modelis: Fei;Tecnai GF20

Īss apraksts: TEM FEI Tecnai G2 F20 ir elektronu mikroskops ar visaugstāko izšķirtspēju Latvijā. Tā mērījumi dod augstas izšķirtspējas informāciju par parauga sastāvu, struktūru un morfoloģiju.

Plašāks apraksts

Kategorija: Spektroskopijas metodes un lāzeri; Materiālu raksturošana 

Ražotājs; Modelis: Edinburgh Instruments; FLS1000-DD-stm

Īss apraksts: Spektrometrs paredzēts fotoluminescences raksturošanai. Ispējams veikt emisijas spektra un ierosinājuma spektra mērījumus, kā arī noteikt kvantu iznākumu, absorbciju un atstarošanos.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri

Ražotājs; Modelis: Bruker; Equinox 55

Īss apraksts: Infrasarkanā starojuma Furjē transformācijas vakuuma spektrometrs Bruker Equinox 55 dod iespēju veikt FTIR analīzi organiskiem un neorganiskiem materiāliem, kristāliem, pusvadītājiem.

Plašāks apraksts

Kategorija: Spektroskopijas metodes un lāzeri; Materiālu raksturošana; Mikroskopija

Ražotājs; Modelis: Bruker; Vertex 80v

Īss apraksts: Infrasarkanā starojuma Furjē transformācijas vakuuma spektrometrs Bruker VERTEX 80v dod iespēju veikt FTIR analīzi organiskiem un neorganiskiem materiāliem, kristāliem, pusvadītājiem. Iekārta ir aprīkota ar Hyperion 2000 infrasarkano mikroskopu.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana 

Ražotājs; Modelis: Hy-Energy; LLC PCTPro-2000, masu spektrometrs RGAPro-100

Īss apraksts: Iekārtas pamatā ir gāzu sorbcijas mērījumi, izmantojot Sievert tipa tilpuma izmaiņu metodi. Iekārta pielietojama jaunu materiālu izpētē (nanomateriālu un porainu virsmu), virsmas un tilpuma absorbciju pētniecībā, fokusējoties uz pielietojumu enerģijas uzglabāšanā.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana 

Ražotājs; Modelis: Ecopia; HMS-5000

Īss apraksts: 

Iekārta raksturo dažādu materiālu elektriskās īpašības, galvenokārt pusvadītājus (Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN), metālu slāņi, oxīdi, u.c. Ar iekārtu iespējams noteikt arī pusvadītāju vadāmības tipu (N vai P) un visus mērījumus var veikt, mainot temperatūru.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana 

Ražotājs; Modelis: Agilent; G200

Īss apraksts: Galvenais instrumenta pielietojums ir plāno kārtiņu un pārklājumu, nanomateriālu un tilpuma materiālu virsmas slāņu mikromehānisko īpašību pētīšana.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri 

Ražotājs; Modelis: Oxford Instruments; SM4000-8

Īss apraksts: Sistēma izmantojama luminescences mehānismu un optisko absorbcijas joslu izcelsmes izpētē, izmantojot optiski inducētu elektronu paramagnētisko rezonansi (EPR).

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana 

Ražotājs; Modelis: Amatec; Dycor LC-D

Īss apraksts: Galvenie pielietojumi ir kontrole un diagnostika tehnoloģiskiem procesiem vai pielietojumiem, kurā izmanto vakuumu vai kontrolēta sastāva atmosfēru un vakuumiekārtu teču diagnostika.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Ķīmijas laboratorijas un to aprīkojums 

Ražotājs; Modelis: Metrohm; 914 pH Meter/Conductometer

Īss apraksts: 

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Materiālu sintēze un apstrāde 

Ražotājs; Modelis: Metrohm Autolab; PGSTAT302N

Īss apraksts: Instruments paredzēts galvanostatiskiem un potenciostatiskiem mērījumiem elektroķīmiskās sistēmās (elektroķīmiskas šūnas, baterijas, degšūnas, u.c.).

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Tīrtelpas; Mikroskopija

Ražotājs; Modelis: Dažādi

Īss apraksts: Profilometrs pielietojams caurspīdīgu kārtiņu/fotorezista un citu kārtiņu biezuma noteikšanā, plānu un biezu kārtiņu mērījumiem, nelīdzenumu pētījumiem,virsmas kvalitāte un defektu pārbaudei.

Plašāks apraksts

Kategorija: Spektroskopijas metodes un lāzeri; Mikroskopija; Materiālu raksturošana

Ražotājs; Modelis: TriVista CRS Confocal Raman Microscope (TR777)

Īss apraksts: Mērījumi ar Ramana spektrometru dod iespēju identificēt un kvalitatīvi analizēt ķīmisko struktūru, organiskos un neorganisko materiālus.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana

Ražotājs; Modelis: Rigaku; MiniFlex 600

Īss apraksts: MiniFlex benchtop rentgenstaru difraktometrs ir daudzfunkcionāla difrakcijas iekārta, ar kuru iespējams raksturot parauga atomāro struktūru. Instruments dod iespēju identificēt fāzes un noskaidrot to attiecību, uzzināt kristālu orientāciju kārtiņā u.c. Piemērots pulveriem vai paraugiem ar plakanu virsmu.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana

Ražotājs; Modelis: PANalytical; X'Pert Pro Powder

Īss apraksts: Augstas izšķirtspējas pulver difrakcija, fāžu identifikācija un kvantitatīva fāžu analīze, plāno kārtiņu un pāŗklājumu analīze, kristalītu izmēra un mehānisko spriegumu pētījumu, kinētika un mērījumi dažādās atmosfērās.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana  

Ražotājs; Modelis: EDAX; Eagle III XPL

Īss apraksts: Vispārīgi instrumentu pielieto dažādu materiālu un iekārtu sastāvai analīzei. Salīdzinot ar uz XRF bāzes veidotu elektronu mikroskopu mikroanalizatoru, šajā iekārtā nekādas papildus parauga apstrades nav nepieciešamas. Analizēt var gan parauga pamata komponentes, gan piemaisījumus.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri

Ražotājs; Modelis: ThermoFisher; ESCALAB Xi

Īss apraksts: XPS ir spēcīgs instruments parauga ķīmiskā sastāva un ķīmiskā stāvokļa raksturošanai. Instruments dod iespēju ne tikai uzņemt XPS spektru, bet arī veikt virsmas un tilpuma sadalījuma analīzi kā arī advancētas metodes (UPS, EELS, u.c.).

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri

Ražotājs; Modelis: Sciencetech Inc.; SS150W

Īss apraksts: Saules simulators ir standarts saules paneļu apgaismošanā un aprīkots ar starojuma avotu, kas līdzīgs Saules spektram. Pētāmajiem paraugiem jāatbilst saules paneļa uzbūves pamatprincipiem ar izmēru 10x10 cm2 un iekārta ir izmantojama kombinācijā ar sprieguma avotu un elektrometru.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana

Ražotājs; Modelis: KP Technology SKP5050

Īss apraksts: Galvenie pielietojumi ir organisku materiālu virsmas potenciāla mērījumi, metālu darba funkcijas noteikšana, neorganisku pusvadītāju Fermi līmeņa noteikšana.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri

Ražotājs; Modelis: J. A. Woollam Co., Inc.; RC2 - XI

Īss apraksts: Elipsometrs mēra polarizācijas izmaiņas gaismai, kas atstarojas vai iziet cauri materiālu struktūrai. Elipsometrija tiek galvenokārt izmantota, lai noteiktu kārtiņu biezumus un optiskās konsantes, bet to arī izmanto, lai raksturotu sastāvu, kristaliskumu, nelīdzenumus, dopantu koncentrācijas un citas materiālu īpašības, kas saistītas ar parauga izraisītu optiskā signāla izmaiņu.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana

Ražotājs; Modelis: Shimadzu Corp. - DTG-60

Īss apraksts: Galvenie pielietojumi ir iztvaikošanas un kondensācijas procesu izpēte vielām, kristāliem un kristālu struktūru kristalizācijas un kušanas temperatūru noteikšana, kā arī amorfu vielu mīkstināšanās temperatūra.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Spektroskopijas metodes un lāzeri 

Ražotājs; Modelis: Freiberg instruments - Lexsygresearch LMS

Īss apraksts: Iekārtas pamata funkcija ir cietvielu defektu analīze, izmantojot dažādas fizikālas parādības: Termostimulēta luminescence (TSL); Optiski stimulēta luminescence (OSL); Katodluminescence (CL); Rentgenluminescence (XRL). Iekārtā iespējams apstarot paraugu ar rentgenstarojumu, beta starojumu un UV lāzeri.

Plašāks apraksts

Kategorija: Materiālu raksturošana; Materiālu sintēze un apstrāde; Mikroskopija

Ražotājs; Modelis: Form Factor - MPS 1500

Īss apraksts: 

Plašāks apraksts