Vārds | Uzvārds | Amats | Tālrunis | Kabinets | E-pasts |
Aleksejs | Kuzmins | Laboratorijas vadītājs | 67251691 | 307 | Aleksejs.Kuzmins@cfi.lu.lv |
Andris | Anspoks | Vadošais pētnieks | 337 | andris.anspoks@cfi.lu.lv | |
Jānis | Maniks | Vadošais pētnieks | 67261132 | 317 | Janis.Maniks@cfi.lu.lv |
Ilze | Manika | Vadošā pētniece | 67261132 | 319 | Ilze.Manika@cfi.lu.lv |
Faina | Muktepāvela | Vadošā pētniece | 67261132 | 320 | faina.muktepavela@cfi.lu.lv |
Aleksandrs | Kaļinko | Vadošais pētnieks | 67251691 | 307 | Aleksandrs.Kalinko@cfi.lu.lv |
Kārlis | Kundziņš | Pētnieks | 67187875 | 405 | Karlis.Kundzins@cfi.lu.lv |
Inga | Jonāne | Zinātniskā asistente | 67251691 | 307 | inga.jonane@cfi.lu.lv |
Arturs | Cintiņš | Zinātniskais asistents | 67251691 | 307 | Arturs.Cintins@cfi.lu.lv |
Rolands | Grants | Inženieris | 67261132 | 317 | Rolands.Grants@cfi.lu.lv |
Materiālu struktūras, morfoloģijas un sastāva izpēti, izmantojot modernas eksperimentālās un teorētiskās metodes, kā arī augstas veiktspējas klasteru skaitļošanu.
Mūsu eksperimentālās iespējas ietver, bet neaprobežojas ar vairākām tehnoloģijām: skenējošā un transmisijas elektronu mikroskopija (SEM/TEM), skenējošā zonžu mikroskopija (AFM/STM), konfokālā mikroskopija (CM), rentgenstaru difrakcija (XRD), rentgenstaru absorbcijas spektroskopija (XAS/EXAFS/XANES) un rentgenstaru fotoelektronu spektroskopija (XPS). Materiāla sastāvu varam pārbaudīt ar rentgenfluorescences (XRF), XPS un XAS metodēm.
Mēs izmantojam uzlabotus teorētiskos aprēķinus un eksperimentālo datu modelēšanu, lai iegūtu ieskatu par materiālu struktūras un īpašību attiecībām.
Mūsu laboratorija ir iesaistīta Latvijas Universitātes mācību procesā un nodrošina studentus ar iespēju piedalīties pētnieciskajā darbībā bakalaura, maģistra un doktora studiju programmās.
Aktīvie projekti
CAMART2 - H2020-WIDESPREAD-2014-1 (2017-2023).
Valsts pētījumu programma:
Daudzfunkcionālie materiāli un kompozīti, fotonika un nanotehnoloģijas (IMIS2) (2014. - 2017.)
EUROfusion:
"ODS steel with high creep strength", EUROfusion WPMAT - Advanced Steels Project (MAT-2.3.2-T005-D004), 2014-....
"When and how ODS particles are formed? - X-ray Absorption Spectroscopy and ab initio modelling of ODS steels", EUROfusion Enabling Research Project (CfP-WP15-ENR-01/UL-01) (2015-2017).
Phenom Pro darbvirsmas skenēšanas elektronu mikroskops.
SEM-FIB Tescan Lyra XM skenēšanas elektronu mikroskops ar enerģētiski dispersīvo rentgenfluorescences analizatoru un fokusētu gallija jonu avotu.
TEM FEI Tecnai GF20 transmisijas elektronu mikroskops, kas piedāvā attēlveidošanas un analīzes risinājumu dabaszinātnēs, materiālu zinātnēs, nanotehnoloģijās un pusvadītāju un datu glabāšanas nozarēs.
PANalytical X'Pert Pro difraktometers struktūras un fāžu sastāvas noteikšana pulverveida un cietiem paraugiem.
Nanoindenter G200 iekārta nanocietības un Junga moduļa mērīšanai instrumentētas indentēšanas ceļā: augstas precizitātes mikrocietības mērītājs.
Veeco AFM CP-II atomspēka mikroskops virsmas reljefu noteikšanai plānajām paraugiem ar izšķirtspēju līdz nanometriem.
NT-MDT "SMENA" atomspēka mikroskops virsmas reljefu noteikšanai plānajām paraugiem ar izšķirtspēju līdz nanometriem.
"Nanofinder S" 3D konfokālais mikroskops ar spektrometru.
Nikon Eclipse L150 optiskais mikroskops ar digitālo kameru.
Vācija:
- DESY/HASYLAB synchrotron center
- Institute for Applied Materials-Applied Materials Physics
- Karlsruhe Institute of Technology
Francija:
- SOLEIL synchrotron center
Italija:
- ELETTRA synchrotron center
- Institute for Photonics and Nanotechnology
- Foundation Bruno Kessler
Spānija:
- ALBA synchrotron center
Zviedrija:
- KTH
- RISE Acreo
ASV:
- Stony Brook University
Ungārija:
- Wigner Research Centre for Physics
Krievija:
- Department of Chemistry, St.Petersburg State University
- Joint Institute for Nuclear Research
J.Timoshenko, A.Anspoks, A.Cintins, A.Kuzmin, J.Purans, A.I.Frenkel, Neural network approach for characterizing structural transformations by x‐ray absorption fine structure spectroscopy, Phys. Rev. Lett. 120 (2018) 225502:1‐6.
E. Butanovs, S. Vlassov, A. Kuzmin, S. Piskunov, J. Butikova, B. Polyakov, Fast-response single-nanowire photodetector based on ZnO/WS2 core/shell heterostructures, ACS Appl. Mater. Interfaces 10 (2018) 13869-13876.
I. Jonane, A. Anspoks, A. Kuzmin, Advanced approach to the local structure reconstruction and theory validation on the example of the W L3-edge extended X-ray absorption fine structure of tungsten, Modelling Simul. Mater. Sci. Eng. 26 (2018) 025004 (11 pp).
I. Manika, R. Zabels, J. Maniks, K. Schwartz, R. Grants, T. Krasta, A. Kuzmin, Formation of dislocations in LiF irradiated with 3He and 4He ions, J. Nucl. Mater. 507 (2018) 241-247.
I. Jonane, A. Cintins, A. Kalinko, R. Chernikov, A. Kuzmin, Probing the thermochromic phase transition in CuMoO4 by EXAFS spectroscopy, Phys. Status Solidi B 255 (2018) 1800074:1-5.
A. Kuzmin, A. Anspoks, A. Kalinko, J. Timoshenko, L. Nataf, F. Baudelet, T. Irifune, Origin of pressure-induced metallization in Cu3N: an X-ray absorption spectroscopy study, Phys. Status Solidi B 255 (2018) 1800073:1-6.
J. Timoshenko, A. Anspoks, A. Kalinko, A. Kuzmin, Thermal disorder and correlation effects in anti-perovskite-type copper nitride, Acta Mater. 129 (2017) 61-71.
B. Polyakov, A. Kuzmin, S. Vlassov, E. Butanovs, J. Zideluns, J. Butikova, R. Kalendarev, M. Zubkins, A comparative study of heterostructured CuO/CuWO4 nanowires and thin films, J. Cryst. Growth 480 (2017) 78-84.
R. Zabels, I. Manika, K. Schwartz, J. Maniks, A. Dauletbekova, R. Grants, M. Baizhumanov, M. Zdorovets, Formation of dislocations and hardening of LiF under high-dose irradiation with 5-21 MeV 12C ions, Appl. Phys. A 123 (2017) 320:1-8.
A. Kuzmin, A. Anspoks, A. Kalinko, J. Timoshenko, The use of x‐ray absorption spectra for validation of classical force‐field models, Z. Phys. Chem. 230 (2016) 537‐549.
B. Polyakov, A. Kuzmin, K. Smits, J. Zideluns, E. Butanovs, J. Butikova, S. Vlassov, S. Piskunov, Y. F. Zhukovskii, Unexpected epitaxial growth of a few WS2 layers on {1‐100} facets of ZnO nanowires, J. Phys. Chem. C 120 (2016) 21451‐21459.