Prezentāciju vadīs: ZEISS GmbH pārstāvis Dr. Fabian Perez (Vācija)
Prezentācijas tēmas:
- TEM lamelu sagatavošana
- Zeiss FIB kolonnas tehnoloģija
- Advancētas TEM lamelu pagatavošanas tehnoloģijas
- Gemini 2 SEM kolonna
Prezentācijas laikā būs iespējams uzdot jautājumus par FIB tehnoloģiju nozares ekspertiem, kā arī iepazīties ar jaunākajām tehnoloģijām, ko piedāvā viens no vadošajiem ražotājiem nozarē.
 ar prezentāciju “Skenējošais elektronu mikroskops Zeiss Crossbeam 550”.){kind=link}