Ziņas

LU CFI zinātniskais seminārs (29.03.2018.) Optiskās fāzes mērījumi, izmantojot kodēto difrakcijas struktūru metodi un bezkontakta profilometriju: ieskats pēcdoktorantūras projekta un LIAA komercializācijas projekta aktivitātēs
LU CFI vadošais pētnieks Dr. Jānis Teteris saņēma zinātniska izdevuma Thin Solid Films (Holande, IF = 1,8) sertifikātu par izcilu ieguldījumu recenzēšanā
