Skenējošais elektronu mikroskops Zeiss Crossbeam 550

Latvijas Universitātes Cietvielu fizikas institūta, Doktorantūras skolas „Funkcionālie materiāli un nanotehnoloģijas” zinātniskais seminārs uzstājās Dr. Fabian Perez (ZEISS GmbH pārstāvis, Vācija).

Prezentāciju vadīs: ZEISS GmbH pārstāvis Dr. Fabian Perez (Vācija)
Prezentācijas tēmas:

  • TEM lamelu sagatavošana
  • Zeiss FIB kolonnas tehnoloģija
  • Advancētas TEM lamelu pagatavošanas tehnoloģijas
  • Gemini 2 SEM kolonna

Prezentācijas laikā būs iespējams uzdot jautājumus par FIB tehnoloģiju nozares ekspertiem, kā arī iepazīties ar jaunākajām tehnoloģijām, ko piedāvā viens no vadošajiem ražotājiem nozarē.